X射线荧光分析的基本原理
荧光，顾名思义就是在光的照射下发出的光。X射线荧光就是被分析样品在X射线照射下发出的X射线，它包含了被分析样品化学组成的信息，通过对上述X射线荧光的分析确定被测样品中各组份含量的仪器就是X射线荧光分析仪。从原子物理学的知识我们知道，对每一种化学元素的原子来说，都有其特定的能级结构，其核外电子都以各自特有的能量在各自的固定轨道上运行，内层电子在足够能量的X射线照射下脱离原子的束缚，成为自由电子，我们说原子被激发了，处于激发态，这时，其他的外层电子便会填补这一空位，也就是所谓跃迁，同时以发出X射线的形式放出能量。由于每一种元素的原子能级结构都是特定的，它被激发后跃迁时放出的X射线的能量也是特定的，称之为特征X射线。通过测定特征X射线的能量，便可以确定相应元素的存在，而特征X射线的强弱（或者说X射线光子的多少）则代表该元素的含量。量子力学知识告诉我们，X 射线具有波粒二象性，既可以看作粒子，也可以看作电磁波。看作粒子时的能量和看作电磁波时的波长有着一一对应关系。这就是著名的普朗克公式：E=hc/λ。显然，无论是测定能量，还是波长，都可以实现对相应元素的分析，其效果是完全一样的。 当能量高于原子内层电子结合能的高能X射线与原子发生碰撞时，驱逐一个内层电子而出现一个空穴，使整个原子体系处于不稳定的激发态，激发态原子寿命约为10-12-10-14s，然后自发地由能量高的状态跃迁到能量低的状态。这个过程称为驰豫过程。驰豫过程既可以是非辐射跃迁，也可以是辐射跃迁。当较外层的电子跃迁到空穴时，所释放的能量随即在原子内部被吸收而逐出较外层的另一个次级光电子，此称为俄歇效应，亦称次级光电效应或无辐射效应，所逐出的次级光电子称为俄歇电子。它的能量是特征的，与入射辐射的能量无关。当较外层的电子跃入内层空穴所释放的能量不在原子内被吸收，而是以辐射形式放出，便产生X射线荧光，其能量等于两能级之间的能量差。因此，X射线荧光的能量或波长是特征性的，与元素有一一对应的关系。图10.1给出了X射线荧光和俄歇电子产生过程示意图。 K层电子被逐出后,其空穴可以被外层中任一电子所填充，从而可产生一系列的谱线，称为K系谱线：由L层跃迁到K层辐射的X射线叫Kα射线,由M层跃迁到K层辐射的X射线叫Kβ射线……。同样,L层电子被逐出可以产生L系辐射(见图10.2)。如果入射的X射线使某元素的K层电子激发成光电子后L层电子跃迁到K层，此时就有能量ΔE释放出来，且ΔE=EK-EL，这个能量是以X射线形式释放，产生的就是Kα射线，同样还可以产生Kβ射线，L系射线等。莫斯莱(H.G.Moseley) 发现，荧光X射线的波长λ与元素的原子序数Z有关，其数学关系如下：λ=K(Z-s)-2这就是莫斯莱定律，式中K和S是常数，因此,只要测出荧光X射线的波长,就可以知道元素的种类,这就是荧光X射线定性分析的基础。此外,荧光X射线的强度与相应元素的含量有一定的关系，据此，可以进行元素定量分析。 X射线荧光光谱法进行定量分析的依据是元素的荧光X射线强度I1与试样中该元素的含量Wi成正比：Ii=IsWi （10.2）式中，Is为Wi=100%时，该元素的荧光X射线的强度。根据式(10.2)，可以采用标准曲线法，增量法，内标法等进行定量分析。但是这些方法都要使标准样品的组成与试样的组成尽可能相同或相似，否则试样的基体效应或共存元素的影响，会给测定结果造成很大的偏差。所谓基体效应是指样品的基本化学组成和物理化学状态的变化对X射线荧光强度所造成的影响。化学组成的变化，会影响样品对一次X射线和X射线荧光的吸收，也会改变荧光增强效应。例如，在测定不锈钢中Fe和Ni等元素时，由于一次X射线的激发会产生NiKα荧光X射线，NiKα在样品中可能被Fe吸收，使Fe激发产生FeKα，测定Ni时，因为Fe的吸收效应使结果偏低，测定Fe时，由于荧光增强效应使结果偏高。但是，配置相同的基体又几乎是不可能的。为克服这个问题，目前X射荧光光谱定量方法一般采用基本参数法。该办法是在考虑各元素之间的吸收和增强效应的基础上，用标样或纯物质计算出元素荧光X射线理论强度，并测其荧光X射线的强度。将实测强度与理论强度比较，求出该元素的灵敏度系数，测未知样品时，先测定试样的荧光X射线强度，根据实测强度和灵敏度系数设定初始浓度值，再由该浓度值计算理论强度。将测定强度与理论强度比较，使两者达到某一预定精度，否则要再次修正，该法要测定和计算试样中所有的元素，并且要考虑这些元素间相互干扰效应，计算十分复杂。因此，必须依靠计算机进行计算。该方法可以认为是无标样定量分析。当欲测样品含量大于1%时，其相对标准偏差可小于1%。
X射线荧光光谱仪的原理是什么？
X射线荧光的物理原理：当材料暴露在短波长X光检查，或伽马射线，其组成原子可能发生电离，如果原子是暴露于辐射与能源大于它的电离势，足以驱逐内层轨道的电子，然而这使原子的电子结构不稳定，在外轨道的电子会“回补”进入低轨道，以填补遗留下来的洞。在“回补”的过程会释出多余的能源，光子能量是相等两个轨道的能量差异的。因此，物质放射出的辐射，这是原子的能量特性。主要使用X射线束激发荧光辐射，第一次是在1928年由格洛克尔和施雷伯提出的。透射测定光谱仪的透射率或它的效率可用辅助单色仪装置来测定。在可见和近紫外实现这些测量没有任何困难。测量通过第一个单色仪的光通量，紧接着测量通过两个单色仪的光通量，以这种方式来确定第二个单色仪的透射率。绝对测量需要知道单色仪的绝对透射率：对于相对测量，以各种波长处的相对单位可以测量透射率。真空紫外线的这些测量有相当大的实验困难，因此通常使用辅助单色仪。在各种入射角的情况下分别测量衍射光栅的效率。在许多实验步骤中已成功地避免了校准上的困难。以上内容参考：百度百科-X射线荧光光谱仪
X射线荧光光谱仪
自从1895年伦琴（Roentgen WC）发现X射线之后不久，莫斯莱（Moseley HG）于1913年发表了第一批X射线光谱数据，阐明了原子结构和X射线发射之间的关系，并验证出X射线波长与元素原子序数之间的数学关系，为X射线荧光分析奠定了基础。1948年由弗里特曼和伯克斯设计出第一台商业用波长色散X射线光谱仪。自20世纪60年代后，由于电子计算机技术、半导体探测技术和高真空技术日新月异，促使X射线荧光分析技术的进一步拓展。X荧光分析是一种快速、无损、多元素同时测定的现代测试技术，已广泛应用于宝石矿物、材料科学、地质研究、文物考古等诸多领域。一、基本原理X射线是一种波长（λ＝0.001～10nm）很短的电磁波，其波长介于紫外线和y射线之间。在高真空的X射线管内，当由几万伏高电压加速的一束高速运动的电子流投射到阳极金属靶（如钨靶、铜靶等）上时，电子的动能部分转变成X光辐射能，并以X射线形式辐射出来。从金属靶射出的X射线主要由两类波长、强度不等的X射线组成，即连续X射线谱及特征X射线谱。前者指在X射线波长范围内，由其短波限开始并包括各种X射线波长所组成的光谱。后者则指当加于X光管的高电压增至一定的临界数值时，使高速运动的电子动能足以激发靶原子的内层电子时，便产生几条具一定波长且强度很大的谱线，并叠加在连续X射线谱上，由特征X射线组成的光谱称为特征X射线谱。特征X射线谱源自原子内层电子的跃迁。当高速运动的电子激发原子内层电子，而导致X射线的产生，这种X射线称为“初级X射线”。若以初级X射线为激发手段，用以照射宝石样品，会造成宝石的原子内的电子发生电离，使内层轨道的电子脱离原子，形成一个电子空位，原子处于“激发态”，这样外层电子就会自动向内层跃迁，填补内层电子空位，进而发射出一定能量的X射线。由于它的波长和能量与原来照射的X射线不同，即发出“次级X射线”。人们将这种由于X射线照射宝石而产生的次级X射线称X射线荧光。通常，X射线荧光只包含特征X射谱线，而缺乏连续X射线谱。当能量高于原子内层电子结合能的高能X射线与原子发生碰撞时，驱逐一个内层电子而出现一个空穴，使整个原子体系处于不稳定的激发态，激发态原子寿命约为10-12～10-14秒，然后自发地由能量高的状态跃迁到能量低的状态。这个过程称为弛豫过程。弛豫过程既可以是非辐射跃迁，也可以是辐射跃迁。当较外层的电子跃迁到空穴时，所释放的能量随即在原子内部被吸收而逐出较外层的另一个次级光电子，此称为俄歇效应，亦称次级光电效应或无辐射效应，所逐出的次级光电子称为俄歇电子。它的能量是特征的，与入射辐射的能量无关。当较外层的电子跃入内层空穴所释放的能量不在原子内被吸收，而是以辐射形式放出，便产生X射线荧光，其能量等于两能级之间的能量差。因此，X射线荧光的能量或波长是特征性的，与元素有一一对应的关系。图2-2-1给出了X射线荧光和俄歇电子产生过程示意图。K层电子被逐出后，其空穴可以被外层中任一电子所填充，从而可产生一系列的谱线，称为K系谱线。由L层跃迁到K层辐射的X射线叫Ka射线，由M层跃迁到K层辐射的X射线叫Kβ射线。同样，L层电子被逐出可以产生L系辐射（见图2-2-2）。如果入射的X射线使某元素的K层电子激发成光电子后L层电子跃迁到K层，此时就有能量△E释放出来，且△E=EK-EL，这个能量是以X射线形式释放，产生的就是Ka射线，同样还可以产生Kβ射线、L系射线等。图2-2-1 X射线荧光和俄歇电子产生示意图图2-2-2 产生K系和L系辐射示意图莫斯莱（Moseley HG,1913）发现，X射线荧光的波长入与元素的原子序数Z有关，随着元素的原子序数的增加，特征X射线有规律的向短波长方向移动。他根据这种谱线移动规律，建立了关于X射线波长与其元素原子序数的关系定律，其数学关系如下：λ＝K（Z-S）-2式中K和S是常数。因此，只要测出荧光X射线的波长，就可以知道元素的种类，这就是荧光X射线定性分析的基础。此外，荧光X射线的强度与相应元素的含量有一定的关系，据此，可以进行元素定量分析。二、X射线荧光光谱仪自然界中产出的宝石通常由一种元素或多种元素组成，用X射线照射宝石时，可激发出各种波长的荧光X射线。为了将混合在一起的X射线按波长（或能量）分开，并分别测量不同波长（或能量）的X射线的强度，以进行定性和定量分析，常采用两种分光技术。其一是波长色散光谱仪。它是通过分光晶体对不同波长的X射线荧光进行衍射而达到分光的目的，然后用探测器探测不同波长处的X射线荧光强度，这项技术称为波长色散（WDX）X射线荧光光谱仪。波长色散X射线荧光光谱仪（见图2-2-3）主要由X射线发生器、分光系统（晶体分光器）、准直器、检测器、多道脉冲分析器及计算机组成。图2-2-3 WDX1000波长色散X射线荧光光谱仪其二是能量色散X射线荧光光谱仪。它是利用荧光X射线具有不同能量的特点，将其分开并检测，不必使用分光晶体，而是依靠半导体探测器来完成。这种半导体探测器有锂漂移硅探测器、锂漂移锗探测器、高能锗探测器等。X光子射到探测器后形成一定数量的电子－空穴对，电子－空穴对在电场作用下形成电脉冲，脉冲幅度与X光子的能量成正比。在一段时间内，来自宝石的荧光X射线依次被半导体探测器检测，得到一系列幅度与光子能量成正比的脉冲，经放大器放大后送到多道脉冲分析器（通常要1000道以上）。按脉冲幅度的大小分别统计脉冲数，脉冲幅度可以用X光子的能量标度，从而得到计数率随光子能量变化的分布曲线，即X光能谱图。能谱图经计算机进行校正，然后显示出来，其形状与波谱类似，只是横坐标是光子的能量。能量色散的最大优点是可以同时测定样品中几乎所有的元素。因此，分析速度快。另一方面，由于能谱仪对X射线的总检测效率比波谱高，因此可以使用小功率X光管激发荧光X射线。另外，能谱仪没有光谱仪那么复杂的机械机构，因而工作稳定，仪器体积也小。缺点是能量分辨率差，探测器必须在低温下保存，对轻元素检测困难。能量色散X射线荧光光谱仪（见图2-2-4）主要由X射线发生器、检测器、放大器、多道脉冲分析器及计算机组成。图2-2-4 能量色散X射线荧光光谱仪近年来又发展以放射性同位素为激发源，如26Fe55、48Cd109、94Pu238、95Am241等，这些放射性同位素具有连续发射低能X射线的能力。不同的放射性同位素源可以提供不同特征能量的辐射。放射源激发的方法是：将很少量的放射性同位素物质固封在一个密封的铅罐中，留出孔径为几毫米或十几毫米的小孔，使X射线经过准直后照射被测宝石上。由于放射源激发具有单色性好、体积小且重量轻的特点，可制造成便携式仪器。但是放射源激发功率较低，荧光强度和测量灵敏度较低。三、应用由于X射线荧光光谱仪适用于各种宝石的无损测试，具有分析的元素范围广，从4Be到92U均可测定；荧光X射线谱线简单，相互干扰少，样品不必分离，分析方法比较简便；分析浓度范围较宽，从常量到微量都可分析（重元素的检测限可达10-6量级，轻元素稍差）；分析快速、准确、无损等优点，近年来受到世界各大宝石研究所和宝石检测机构所重视并加以应用。（一）鉴定宝石种属自然界中，每种宝石具有其特定的化学成分，采用X射线荧光光谱仪可分析出所测宝石的化学元素和含量（定性—半定量），从而达到鉴定宝石种属的目的。例如，图2-2-5显示马达加斯加粉红色绿柱石中含少量Cs、Rb等致色元素，故可确定其为铯绿柱石。图2-2-5 铯绿柱石的能量色散X射线荧光光谱图（二）区分某些合成和天然宝石由于部分合成宝石生长的物化条件、生长环境、致色或杂质元素与天然宝石之间存在一定的差异，据此可作为鉴定依据。如早期的合成欧泊中有时含有天然欧泊中不存在的Zr元素；合成蓝色尖晶石中存在Co致色元素，而天然蓝色尖晶石中存在Fe杂质致色元素；采用焰熔法合成的黄色蓝宝石中普遍含有天然黄色蓝宝石中缺乏的Ni杂质元素；合成钻石中有时存在Fe、Ni或Cu等触媒剂成分等。（三）鉴别某些人工处理宝玉石采用X射线荧光光谱仪有助于快速定性区分某些人工处理宝石。如近期珠宝市场上面市的Pb玻璃充填处理红宝石中普遍富含天然红宝石中几乎不存在的Pb杂质元素；同理，熔合再造处理翡翠中富含天然翡翠中不存在的Pb杂质元素；有些染色处理黑珍珠中富含Ag元素，如图2-2-6显示染色黑珍珠中染色剂为硝酸银化合物。图2-2-6 染色黑珍珠的能量色散X射线荧光光谱图
国产X荧光光谱仪和国外的X荧光光谱仪有什么区别?
X荧光光谱仪的工作方式主要分为两种，一种是波长色散的，另一种是能量色散的。
由于两者的检测方式不同，造成了价格上的区别。
波长色散X荧光光谱仪需要大功率激发，所以相对的仪器体积也比较大，工作功率大概在3KW到4KW。他的检测下限相对会更低一些。当然价格也会很高。都是百万以上的设备。
能量色散X荧光光谱仪的工作功率就要低很多了，一般只有200W左右，而且体积也很小，检测下限要比波谱稍高一些，但是如果是用于生产中的检测应该没有问题。价格相对较低，一般在百万以内，但也要有几十万（大概70万左右，含国产制样设备，但配置不同，价格还会有差异）
现在X荧光光谱仪的应用范围相对较广，无论是矿物，土壤，木材，化纤材料，金属，塑料橡胶，还有液体油品都可以检测。
当然在选择设备时要注意的是该产品使用的荧光管、靶材还有检测器，这几个核心部件是仪器使用效果的关键。
不建议使用国产设备，虽说这几年国产能谱的企业也除了很多，市场上也有一定的销量，但从仪器的稳定性，检测能力及设计结构的合理性，荧光管及靶材的选择方面，都相对有一些差距。
X射线荧光分析仪
X 射线荧光分析的工作原理 使用X射线直接照射试样,测定由此产生的2次X射线(X射线荧光)的能量强度.用此法可无须破坏样品进行样品定性分析和定量分析.与其他分析方法相比,处理更简单,可快速分析,这是X射线荧光分析的一大特长。 技术参数 可测量元素：原子序数13(Al)～92(U)
样品形态：固体、粉末、液体
X射线源：小型空冷式X射线管球(Rh靶)
管电压：15kV 、31kV、50kV 管电流：1mA
检测器：Si半导体检测器(无需液氮)
准直器：Φ1mm、Φ5mm(自动切换)样品观察：彩色CCD摄像头
滤波器：4种模式自动切换
样品室：370(W) ×320(D) ×155(H)mm重量：90kg(不含电脑)
定性分析功能：能谱测量、自动辨别，比较表示， KLM标示表示，差异表示
定量分析功能：块体FP法，块体检量线法(标准曲线法)
统计处理功能：MS-EXCEL?0?3
报告制作：MS-WORD?0?3
安装环境：温度：10℃～35℃(±)5℃
湿度：35%～80%
电源：AC100~120V、200~240V±10%、10A主要特点 可对应《电子信息产品污染控制管理办法》
WEEE ＆ RoHS 及ELV指令
玩具中有害重金属的检测
无铅焊锡分析、无卤化分析仪器介绍 1. 高灵敏度 因为采用了大面积的检测器以及样品到检测器之间的最短距离的设计，因此提高了X射线荧光的检测效果。
2. 高精度（内置波峰分离软件）
运用新技术数字波峰分离软件（DPD），可以分离在Si（Li）检测器中也难以分离的能谱。
3. 各种修正功能
形状/厚度修正 运用散射线方式对被测物体的形状/厚度进行修正，从而提高精度。
氯乙烯（PVC）修正 识别不同的材质，对其进行修正。
不仅是软质氯乙烯，硬质氯乙烯也可以修正。
4. 大型样品室
笔记本电脑也可以轻松放入的大型样品室。
370(W)×320(D)×155(H)mm
5. 无需液氮
配备有先进的电子冷却检测器，所以无需使用液氮，让日常操作更安全，同时可降低运行成本。
6. 体积小，安置方便
7. 无需变压器
可按客户需求，调整出厂电压为100V或者220V，无需额外购置变压器。
8. 多种软件语言的对应
可对应日文、英文、简体中文、繁体中文、韩文等多种语言。
9. 精度管理型有害物质识别软件
测量值的精度（偏差）是根据样品而不同的，以往是事先决定测量的时间，而无论样品的测量是否能达到一定的精度，有时会浪费测量的时间，相反在设定 的测量时间内有时无法达到一定难得精度。精度管理型软件则是事先设定一个允许的误差值，当测量的误差值小于设定的误差值时，测量将会自动结束。
10. 可搭载最大12个样品连续自动测量的进样装置。
X射线荧光光谱仪的荧光光谱
能量色散X射线荧光光谱采用脉冲高度分析器将不同能量的脉冲分开并测量。能量色散X射线荧光光谱仪可分为具有高分辨率的光谱仪，分辨率较低的便携式光谱仪，和介于两者之间的台式光谱仪。高分辨率光谱仪通常采用液氮冷却的半导体探测器，如Si(Li)和高纯锗探测器等。低分辨便携式光谱仪常常采用正比计数器或闪烁计数器为探测器，它们不需要液氮冷却。采用电致冷的半导体探测器，高分辨率谱仪已不用液氮冷却。同步辐射光激发X射线荧光光谱、质子激发X射线荧光光谱、放射性同位素激发X射线荧光光谱、全反射X射线荧光光谱、微区X射线荧光光谱等较多采用的是能量色散方式。
X射线荧光光谱仪的内容简介
本书是“分析仪器使用与维护丛书”之一。本书分十二章介绍了X射线荧光光谱分析的原理，仪器主要部件，定性与定量分析方法，基体校正与数据处理方法，样品制备技术，具有共性的仪器校正方法、日常维护知识和故障判断原则等。内容丰富、新颖、翔实，在探测器技术、基体校正、样品制备、仪器维护等章节具有特色。本书可供X射线荧光光谱分析工作者学习参考，同时也可作为高等学校与仪器分析相关专业师生的参考书。
如何用X－荧光仪分析与测定铁矿石中铁元素
用X射线荧光光谱法对高锰铁矿石中铁进行测定,应用内标法制作工作曲线,用吸收影响系数(dj)法对工作曲线回归校正,消除了锰对铁的干扰。
1试验部分
1.1仪器与试剂MXF-2400型X射线荧光光谱分析仪;RYL-02型熔融炉;铑靶X射线管;铂-金合金坩埚(95%Pt+5%Au)。碘化钾溶液:500 g·L-1;试剂均为分析
1.2工作条件荧光光谱仪工作条件:管电压40 kV,管电流70 mA,积分时间40 s,分光晶体为LiF晶体,分析谱线均为Kα线,铁、锰、钴的脉冲高度值依次在以下范围内:10~125,50~105,35~70。熔融炉工作条件:托盘转速15 r·min-1,摆角30°,摆动时间18 min,前静止时间2 min,后静止时间2 min,试样熔融温度960℃,熔钴温度1 150℃。
1.3内控标样与工作曲线制作选取有代表性高锰铁矿石试样8个,锰含量按一定梯度分布,用化学方法对铁和锰进行定值后与30个标准物质一起用内标法制作工作曲线,进行dj法回归校正后,即可进行试样分析。中国铁合金在线
X射线荧光光谱仪仪器,听说对身体有辐射,我该如何是好?
亲，第一，X射线荧光光谱仪是属于三类射线装置，而且离你的工作地点有2米的距离，基本到你那里已经没有多少了，你可以放心工作；第二，国家目前对辐射安全方面管理很严格，如果你单位有这个射线装置，按照环保部的相关法令，你单位必须办理辐射安全许可证，而办理辐射安全许可证需要当地的环保监管部门出具现场监察记录，其中包括几个重点项：1.辐射工作场所设计是否合理，门、窗等是否有类似铅玻璃之类的防辐设施；2.辐射工作人员是否进行过升级环保部门组织的辐射安全培训，并取得了相关培训证书；3.是否配备辐射监控仪器；4.是否为辐射工作人员配备个人防辐设备，例如铅衣、铅手套等；5.是否为每个辐射工作人员配备个人剂量剂（片），并按要求为其进行辐射剂量监测以及职业体检。如果你单位什么都没做，你可以考虑打市长热线之类的进行反馈，基本上没意外本周内就会有环保部门下来调查了。
x射线荧光光谱仪有辐射吗
X射线荧光光谱仪，如果设计的不好的话，就会有辐射漏出来，像尼通的手持式仪器就存在很大的辐射，辐射超标对人体是有很多的危害的，可能会造成各种疾病，而且一般都带有遗传性，所以选择X荧光光谱仪的时候，一定要注意各个公司的安全标准，国外的仪器按理说应该不错，但是为什么安全性方面往往做的不足，不解，不知道在他们美国是不是也这样。
我觉得要买X荧光光谱仪的话，大可选择国产的仪器，性能现在已经做的不错，跟国外的产品已经不分高低了。
有这方面的需求的话，请跟我们公司联系，我们是苏州百学仪器有限公司的，我们公司是专业做便携式X荧光光谱仪的，在安全性方面做的很不错，经过几代产品之后，已经达到了国外仪器性能的水准，但在安全性方面比国外的产品都要做的好，可以电话咨询我们公司的技术服务中心 0512-66519967
