XRF测试机对辐射对人伤害大不？
XRF测试机对辐射对人伤害大不？你好亲，“XRF仪器是有辐射,XRF的辐射量很低,功率很小。 X射线在穿透人体时,会对人体产生轻度危害,引起人体生物大分子及水分子的电离和激发反应,产生知有害效应,无任何防护的照射就会对人体造成射线损伤。 射线对人体造成的伤害,绝大部分会长期潜伏在体内,破坏免疫系统。”【摘要】
XRF测试机对辐射对人伤害大不？【提问】
打开后的测试端口有辐射吗【提问】
XRF测试机对辐射对人伤害大不？你好亲，“XRF仪器是有辐射,XRF的辐射量很低,功率很小。 X射线在穿透人体时,会对人体产生轻度危害,引起人体生物大分子及水分子的电离和激发反应,产生知有害效应,无任何防护的照射就会对人体造成射线损伤。 射线对人体造成的伤害,绝大部分会长期潜伏在体内,破坏免疫系统。”【回答】
是停止测试打开后也会有射线吗【提问】
你好亲，有的，但是非常小。【回答】
XRF测试机对辐射对人伤害大不？
XRF仪器是有辐射，XRF的辐射量很低，功率很小。X射线在穿透人体时，会对人体产生轻度危害，引起人体生物大分子及水分子的电离和激发反应，产生知有害效应，无任何防护的照射就会对人体造成射线损伤。射线对人体造成的伤害，绝大部分会长期潜伏在体内，破坏免疫系统。分析仪的X射线不会直接穿透人体的，但也需要防护装置，即使是在有防护装置不直接接触的情况下，日积月累，也是一件很可怕的事情。扩展资料：相关场景的X光辐射：1、行李X光安检仪与医用X光成像仪原理相同，但因为行李安检时对成像质量的要求没有医学上那样高，所以行李安检仪中X光的强度要小得多，辐射剂量约为医用X光成像仪的1%。2、机场安检X光全身扫描仪所用到的是后向散射X光探测技术，使用的是能量较低的X光，仅能进入人体皮肤组织几毫米。X光与被测物内的电子发生碰撞，能量会发生损失，且能量损失的大小与被测物的密度有关。3、X光全身扫描仪探测反射回的X光能量及强度变化，从而区分人体皮肤组织和刀具、武器等金属物品。因为全身扫描仪所用的X光的能量和强度都较低，所以接受一次全身安检所受到的辐射剂量大约相当于拍一次X光片的五千分之一，影响是比较小的。
如何用X－荧光仪分析与测定铁矿石中铁元素
用X射线荧光光谱法对高锰铁矿石中铁进行测定,应用内标法制作工作曲线,用吸收影响系数(dj)法对工作曲线回归校正,消除了锰对铁的干扰。
1试验部分
1.1仪器与试剂MXF-2400型X射线荧光光谱分析仪;RYL-02型熔融炉;铑靶X射线管;铂-金合金坩埚(95%Pt+5%Au)。碘化钾溶液:500 g·L-1;试剂均为分析
1.2工作条件荧光光谱仪工作条件:管电压40 kV,管电流70 mA,积分时间40 s,分光晶体为LiF晶体,分析谱线均为Kα线,铁、锰、钴的脉冲高度值依次在以下范围内:10~125,50~105,35~70。熔融炉工作条件:托盘转速15 r·min-1,摆角30°,摆动时间18 min,前静止时间2 min,后静止时间2 min,试样熔融温度960℃,熔钴温度1 150℃。
1.3内控标样与工作曲线制作选取有代表性高锰铁矿石试样8个,锰含量按一定梯度分布,用化学方法对铁和锰进行定值后与30个标准物质一起用内标法制作工作曲线,进行dj法回归校正后,即可进行试样分析。中国铁合金在线
奥林巴斯X射线荧光分析仪有哪些功能？
能在现场即时无损方式快速完成元素分析且提供精准的分析结果，这是奥林巴斯X射线荧光分析仪好评如潮的理由。就拿小巧紧凑、轻盈便携的手持式X射线荧光分析仪来说，可以定量分析周期表中90%以上的元素，从镁到铀，这些可测定的元素覆盖了国内商用发展及合金中使用的大部分传统元素，在高温、雨淋等恶劣条件下具有不同寻常的耐用性能，通过抗摔测试，确保X射线荧光分析仪保持卓越的分析性能，还可选Wi-Fi和蓝牙功能，实现数据共享，应用云技术，甚至有类似智能手机的用户界面，简单直观，方便操作。总而言之，奥林巴斯X射线荧光分析仪可以让一个非专业人员轻松实现合金辨别分析并得到准确的分析结果。
荧光光谱能分析哪些东西
荧光是一种二次发光现象，其光谱分为原子荧光和分子荧光
原子荧光指的是原子外层电子被激发以后，回到低能级释放出的光子能量。理论上说，凡是能吸收能量的原子都能发生荧光现象。但是因为气化和激发能量的选择问题，从技术上现在比较成功的是对汞、砷、硒这三种原子的分析。而x射线原子荧光由于分光的问题则是只对钠以上到铀的大部分原子进行分析。
分子荧光是分子键能的能级，吸收紫外光被激发到较高能级以后，返回低能级释放出的光子能量，一部分具有紫外吸收能力的分子能发出荧光，另一部分发出的是磷光。荧光和磷光只是弛豫时间的差别。分子荧光主要用于大分子的分析。可以说只要有紫外吸收能力的大分子，都可以用荧光光谱或者磷光光谱进行分析。
直读光谱仪和X射线荧光分析仪器有什么不同？还有其他那些仪器是元素分析的，他们都有什么区别？
直读光谱仪和X射线荧光均属于发射光谱，不是你所说的吸收光谱，用小车推的属于便携式移动光谱仪，是直读光谱仪的一种。
直读光谱仪主要分为立式、台式、移动三种，分析稳定性和精度依次下降。
X射线荧光主要分为波长、能量与便携式三种，分析精度也是按照刚才的顺序依次下降，功能依次是元素含量分析、元素半定量定性分析、定性分析
元素分析类仪器：原子吸收、ICP（等离子体发射光谱仪）、ICP-MS（等离子体质谱仪）、GD（辉光放电光谱仪）、GD-MS（辉光放电质谱仪）、直流电弧光谱仪。以上都主要用户样品中元素分量的分析，当然这些只是光谱系列的，色谱系类的仪器也可以进行部分元素含量的分析
除了以上仪器，还有一些主用的元素分析仪，例如检测非金属中CHNSO五个元素的元素分析仪、检测总有机碳的TOC分析仪、检测食品及环境样品中汞的测汞仪等等
以上所述仪器均为元素总量测定，基本上不能进行元素价态的分析，谢谢！
医用X射线设备注册商标属于哪一类？
医用X射线设备属于商标分类第10类1001群组；经统计，注册医用X射线设备的商标达63件。注册时怎样选择其他小项类：1.选择注册（医用或牙科用扶手椅，群组号：1002）类别的商标有2件，注册占比率达3.17%2.选择注册（医用放射设备，群组号：1003）类别的商标有2件，注册占比率达3.17%3.选择注册（血压测量计，群组号：1001）类别的商标有1件，注册占比率达1.59%4.选择注册（医疗分析设备，群组号：1001）类别的商标有1件，注册占比率达1.59%5.选择注册（医用X光线发生设备和装置，群组号：1003）类别的商标有1件，注册占比率达1.59%6.选择注册（外科、医疗、牙科和兽医用仪器及器械，群组号：1002）类别的商标有1件，注册占比率达1.59%7.选择注册（外科、医疗、牙科和兽医用仪器及器械，假肢，假眼和假牙，群组号：1002）类别的商标有1件，注册占比率达1.59%8.选择注册（治疗设备，群组号：1001）类别的商标有1件，注册占比率达1.59%9.选择注册（医院检查用扶手椅，群组号：1002）类别的商标有1件，注册占比率达1.59%10.选择注册（敷药用容器，群组号：1001）类别的商标有1件，注册占比率达1.59%
X光分析仪注册商标属于哪一类？
X光分析仪属于商标分类第9类0910群组；经路标网统计，注册X光分析仪的商标达73件。注册时怎样选择其他小项类：1.选择注册（X光测试图，群组号：0910）类别的商标有2件，注册占比率达2.74%2.选择注册（超声波探测器，群组号：0910）类别的商标有2件，注册占比率达2.74%3.选择注册（用于非破坏性检查的荧光屏，群组号：0913）类别的商标有2件，注册占比率达2.74%4.选择注册（牙科用或医用X光防护服，群组号：0919）类别的商标有2件，注册占比率达2.74%5.选择注册（用于非破坏性检查系统的其他零附件，群组号：0910）类别的商标有1件，注册占比率达1.37%6.选择注册（X光分光设备，群组号：0911）类别的商标有1件，注册占比率达1.37%7.选择注册（摄影器械和装置及其零部件，群组号：0909）类别的商标有1件，注册占比率达1.37%8.选择注册（电子机械及设备以及零部件和附加装置，群组号：0913）类别的商标有1件，注册占比率达1.37%9.选择注册（晶片分析仪，群组号：0910）类别的商标有1件，注册占比率达1.37%10.选择注册（非破坏性检验用增效荧光屏，群组号：0901）类别的商标有1件，注册占比率达1.37%
精密仪器之X射线荧光光谱仪
简介：
X射线荧光光谱仪（X-rayFluorescenceSpectrometer，简称：XRF光谱仪），是一种快速的、非破坏式的物质测量方法。X射线荧光（X-rayfluorescence，XRF）是用高能量X射线或伽玛射线轰击材料时激发出的次级X射线。这种现象被广泛用于元素分析和化学分析，特别是在金属，玻璃，陶瓷和建材的调查和研究，地球化学，法医学，考古学和艺术品，例如油画和壁画。
使用型态：
XRF用X光或其他激发源照射待分析样品，样品中的元素之内层电子被击出后，造成核外电子的跃迁，在被激发的电子返回基态的时候，会放射出特征X光；不同的元素会放射出各自的特征X光，具有不同的能量或波长特性。检测器(Detector)接受这些X光，仪器软件系统将其转为对应的信号。这一现象广泛用于元素分析和化学分析，特别是在研究金属，玻璃，陶瓷和建筑材料，以及在地球化学研究、法医学、电子产品进料品管（EURoHS）和考古学等领域，在某种程度上与原子吸收光谱仪互补，减少工厂附设的品管实验室之分析人力投入。
X射线荧光的物理原理：
当材料暴露在短波长X光检查，或伽马射线，其组成原子可能发生电离，如果原子是暴露于辐射与能源大于它的电离势，足以驱逐内层轨道的电子，然而这使原子的电子结构不稳定，在外轨道的电子会“回补”进入低轨道，以填补遗留下来的洞。在“回补”的过程会释出多余的能源，光子能量是相等两个轨道的能量差异的。因此，物质放射出的辐射，这是原子的能量特性。
X射线荧光光谱法在化学分析：
主要使用X射线束激发荧光辐射，第一次是在1928年由格洛克尔和施雷伯提出的。到了现在，该方法作为非破坏性分析技术，并作为过程控制的工具，广泛应用于采掘和加工工业。原则上，最轻的元素，可分析出铍（z=4），但由于仪器的局限性和轻元素的低X射线产量，往往难以量化，所以针对能量分散式的X射线荧光光谱仪，可以分析从轻元素的钠（z=11）到铀，而波长分散式则为从轻元素的硼到铀。
X射线荧光光谱仪
自从1895年伦琴（Roentgen WC）发现X射线之后不久，莫斯莱（Moseley HG）于1913年发表了第一批X射线光谱数据，阐明了原子结构和X射线发射之间的关系，并验证出X射线波长与元素原子序数之间的数学关系，为X射线荧光分析奠定了基础。1948年由弗里特曼和伯克斯设计出第一台商业用波长色散X射线光谱仪。自20世纪60年代后，由于电子计算机技术、半导体探测技术和高真空技术日新月异，促使X射线荧光分析技术的进一步拓展。X荧光分析是一种快速、无损、多元素同时测定的现代测试技术，已广泛应用于宝石矿物、材料科学、地质研究、文物考古等诸多领域。一、基本原理X射线是一种波长（λ＝0.001～10nm）很短的电磁波，其波长介于紫外线和y射线之间。在高真空的X射线管内，当由几万伏高电压加速的一束高速运动的电子流投射到阳极金属靶（如钨靶、铜靶等）上时，电子的动能部分转变成X光辐射能，并以X射线形式辐射出来。从金属靶射出的X射线主要由两类波长、强度不等的X射线组成，即连续X射线谱及特征X射线谱。前者指在X射线波长范围内，由其短波限开始并包括各种X射线波长所组成的光谱。后者则指当加于X光管的高电压增至一定的临界数值时，使高速运动的电子动能足以激发靶原子的内层电子时，便产生几条具一定波长且强度很大的谱线，并叠加在连续X射线谱上，由特征X射线组成的光谱称为特征X射线谱。特征X射线谱源自原子内层电子的跃迁。当高速运动的电子激发原子内层电子，而导致X射线的产生，这种X射线称为“初级X射线”。若以初级X射线为激发手段，用以照射宝石样品，会造成宝石的原子内的电子发生电离，使内层轨道的电子脱离原子，形成一个电子空位，原子处于“激发态”，这样外层电子就会自动向内层跃迁，填补内层电子空位，进而发射出一定能量的X射线。由于它的波长和能量与原来照射的X射线不同，即发出“次级X射线”。人们将这种由于X射线照射宝石而产生的次级X射线称X射线荧光。通常，X射线荧光只包含特征X射谱线，而缺乏连续X射线谱。当能量高于原子内层电子结合能的高能X射线与原子发生碰撞时，驱逐一个内层电子而出现一个空穴，使整个原子体系处于不稳定的激发态，激发态原子寿命约为10-12～10-14秒，然后自发地由能量高的状态跃迁到能量低的状态。这个过程称为弛豫过程。弛豫过程既可以是非辐射跃迁，也可以是辐射跃迁。当较外层的电子跃迁到空穴时，所释放的能量随即在原子内部被吸收而逐出较外层的另一个次级光电子，此称为俄歇效应，亦称次级光电效应或无辐射效应，所逐出的次级光电子称为俄歇电子。它的能量是特征的，与入射辐射的能量无关。当较外层的电子跃入内层空穴所释放的能量不在原子内被吸收，而是以辐射形式放出，便产生X射线荧光，其能量等于两能级之间的能量差。因此，X射线荧光的能量或波长是特征性的，与元素有一一对应的关系。图2-2-1给出了X射线荧光和俄歇电子产生过程示意图。K层电子被逐出后，其空穴可以被外层中任一电子所填充，从而可产生一系列的谱线，称为K系谱线。由L层跃迁到K层辐射的X射线叫Ka射线，由M层跃迁到K层辐射的X射线叫Kβ射线。同样，L层电子被逐出可以产生L系辐射（见图2-2-2）。如果入射的X射线使某元素的K层电子激发成光电子后L层电子跃迁到K层，此时就有能量△E释放出来，且△E=EK-EL，这个能量是以X射线形式释放，产生的就是Ka射线，同样还可以产生Kβ射线、L系射线等。图2-2-1 X射线荧光和俄歇电子产生示意图图2-2-2 产生K系和L系辐射示意图莫斯莱（Moseley HG,1913）发现，X射线荧光的波长入与元素的原子序数Z有关，随着元素的原子序数的增加，特征X射线有规律的向短波长方向移动。他根据这种谱线移动规律，建立了关于X射线波长与其元素原子序数的关系定律，其数学关系如下：λ＝K（Z-S）-2式中K和S是常数。因此，只要测出荧光X射线的波长，就可以知道元素的种类，这就是荧光X射线定性分析的基础。此外，荧光X射线的强度与相应元素的含量有一定的关系，据此，可以进行元素定量分析。二、X射线荧光光谱仪自然界中产出的宝石通常由一种元素或多种元素组成，用X射线照射宝石时，可激发出各种波长的荧光X射线。为了将混合在一起的X射线按波长（或能量）分开，并分别测量不同波长（或能量）的X射线的强度，以进行定性和定量分析，常采用两种分光技术。其一是波长色散光谱仪。它是通过分光晶体对不同波长的X射线荧光进行衍射而达到分光的目的，然后用探测器探测不同波长处的X射线荧光强度，这项技术称为波长色散（WDX）X射线荧光光谱仪。波长色散X射线荧光光谱仪（见图2-2-3）主要由X射线发生器、分光系统（晶体分光器）、准直器、检测器、多道脉冲分析器及计算机组成。图2-2-3 WDX1000波长色散X射线荧光光谱仪其二是能量色散X射线荧光光谱仪。它是利用荧光X射线具有不同能量的特点，将其分开并检测，不必使用分光晶体，而是依靠半导体探测器来完成。这种半导体探测器有锂漂移硅探测器、锂漂移锗探测器、高能锗探测器等。X光子射到探测器后形成一定数量的电子－空穴对，电子－空穴对在电场作用下形成电脉冲，脉冲幅度与X光子的能量成正比。在一段时间内，来自宝石的荧光X射线依次被半导体探测器检测，得到一系列幅度与光子能量成正比的脉冲，经放大器放大后送到多道脉冲分析器（通常要1000道以上）。按脉冲幅度的大小分别统计脉冲数，脉冲幅度可以用X光子的能量标度，从而得到计数率随光子能量变化的分布曲线，即X光能谱图。能谱图经计算机进行校正，然后显示出来，其形状与波谱类似，只是横坐标是光子的能量。能量色散的最大优点是可以同时测定样品中几乎所有的元素。因此，分析速度快。另一方面，由于能谱仪对X射线的总检测效率比波谱高，因此可以使用小功率X光管激发荧光X射线。另外，能谱仪没有光谱仪那么复杂的机械机构，因而工作稳定，仪器体积也小。缺点是能量分辨率差，探测器必须在低温下保存，对轻元素检测困难。能量色散X射线荧光光谱仪（见图2-2-4）主要由X射线发生器、检测器、放大器、多道脉冲分析器及计算机组成。图2-2-4 能量色散X射线荧光光谱仪近年来又发展以放射性同位素为激发源，如26Fe55、48Cd109、94Pu238、95Am241等，这些放射性同位素具有连续发射低能X射线的能力。不同的放射性同位素源可以提供不同特征能量的辐射。放射源激发的方法是：将很少量的放射性同位素物质固封在一个密封的铅罐中，留出孔径为几毫米或十几毫米的小孔，使X射线经过准直后照射被测宝石上。由于放射源激发具有单色性好、体积小且重量轻的特点，可制造成便携式仪器。但是放射源激发功率较低，荧光强度和测量灵敏度较低。三、应用由于X射线荧光光谱仪适用于各种宝石的无损测试，具有分析的元素范围广，从4Be到92U均可测定；荧光X射线谱线简单，相互干扰少，样品不必分离，分析方法比较简便；分析浓度范围较宽，从常量到微量都可分析（重元素的检测限可达10-6量级，轻元素稍差）；分析快速、准确、无损等优点，近年来受到世界各大宝石研究所和宝石检测机构所重视并加以应用。（一）鉴定宝石种属自然界中，每种宝石具有其特定的化学成分，采用X射线荧光光谱仪可分析出所测宝石的化学元素和含量（定性—半定量），从而达到鉴定宝石种属的目的。例如，图2-2-5显示马达加斯加粉红色绿柱石中含少量Cs、Rb等致色元素，故可确定其为铯绿柱石。图2-2-5 铯绿柱石的能量色散X射线荧光光谱图（二）区分某些合成和天然宝石由于部分合成宝石生长的物化条件、生长环境、致色或杂质元素与天然宝石之间存在一定的差异，据此可作为鉴定依据。如早期的合成欧泊中有时含有天然欧泊中不存在的Zr元素；合成蓝色尖晶石中存在Co致色元素，而天然蓝色尖晶石中存在Fe杂质致色元素；采用焰熔法合成的黄色蓝宝石中普遍含有天然黄色蓝宝石中缺乏的Ni杂质元素；合成钻石中有时存在Fe、Ni或Cu等触媒剂成分等。（三）鉴别某些人工处理宝玉石采用X射线荧光光谱仪有助于快速定性区分某些人工处理宝石。如近期珠宝市场上面市的Pb玻璃充填处理红宝石中普遍富含天然红宝石中几乎不存在的Pb杂质元素；同理，熔合再造处理翡翠中富含天然翡翠中不存在的Pb杂质元素；有些染色处理黑珍珠中富含Ag元素，如图2-2-6显示染色黑珍珠中染色剂为硝酸银化合物。图2-2-6 染色黑珍珠的能量色散X射线荧光光谱图
XRF测试仪的定性及定量分析
主要是指测试的精确度，一般来说XRF的测试精度比较低，一般测试结果做得比较理想的情况都有10%以上的误差，同时看在应用在哪些方面的测试，测什么基材的什么元素，本底的影响等。一般是定性分析，现在XRF应用在ROHS比较多，它主要来进行定性分析，看看是否达到ROHS标准要求。当然如果要求不高的百分比的含量测量是可以达到精度要求的，是可以定性的，同时可以多用标样来提高它的测试精确度。基本介绍现代X射线荧光光谱分析仪由以下几部分组成：X射线发生器（X射线管、高压电源及稳定稳流装置）、分光检测系统（分析晶体、准直器与检测器）、记数记录系统（脉冲辐射分析器、定标计、计时器、积分器、记录器）。不同元素具有波长不同的特征X射线谱，而各谱线的荧光强度又与元素的浓度呈一定关系，测定待测元素特征X射线谱线的波长和强度就可以进行定性和定量分析。以上内容参考：百度百科-X射线荧光光谱分析
XRF测试仪的定性及定量分析
定性分析就是看看测量的样品有什么元素，一般是全元素的分析；
定量分析，分为半定量和定量，半定量一般公司的XRF仪器都有而且是XRF方便快捷的特征，但是存在误差较大，一般5—10%，这个是随着含量和原子序数的增加，准确度就越高，Na以前的元素参考性很低，定量分析，一般需要10-20个标样来校准制作标准曲线，这个准确度就会很高了，
具体操作每台仪器不太一样，请查看仪器说明书，百度文库上查到过布鲁克公司的使用说明。
